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专利名称：Method for the spatial determination of the
diffusion length of minority charge carriersin a semiconductive crystal body with the aidof an electrolytic cell
发明人：FOELL, HELMUT, DR.,LEHMANN, VOLKER,
DR.
申请号：EP90108837.7申请日：19900510公开号：EP0400373B1公开日：19950517
摘要：Array
申请人：SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT,SIEMENS AG,SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
地址：DE
国籍：DE
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