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专利名称：系统测试方法、装置、电子设备及存储介质专利类型：发明专利
发明人：郑建智,陈乐,黄成,陈静申请号：CN2018115179.5申请日：20181212公开号：CN109684205A公开日：20190426
摘要：本申请提供一种系统测试方法、装置及系统，其中系统测试方法包括：利用当前案例对应的输入修饰规则，修饰所述当前案例的原有输入数据获得当前输入数据；于待测系统中加载所述当前输入数据并获得实际输出数据；利用当前案例对应的输出修饰规则，修饰所述实际输出数据获得当前输出数据；依据对比规则对比所述原有输出数据和所述当前输出数据，获得所述当前案例于所述待测系统的测试结果。本申请可以对已有案例进行修饰，以便已有案例可以适用于待测系统，这样可以避免技术人员频繁修改测试案例，本申请中技术人员无需大规模频繁修改测试案例，使用已有案例并对已有案例进行修饰便可以应用于待测系统，从而可以提高测试效率。
申请人：恒生电子股份有限公司
地址：310053 浙江省杭州市滨江区江南大道3588号恒生大厦11楼
国籍：CN
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
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