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胶片的特性曲线中,各曝光量均能用于测量缺陷尺寸吗?

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不能。对于感光胶片来说,存在一个可辨认的缺陷的最小曝光量,这个曝光量被称为最小可辨缺陷曝光量,曝光量小于这个值,缺陷则无法被检测到,在胶片的特性曲线中,只有曝光量大于或等于MDD的点才能用于测量缺陷尺寸,因此各曝光量不能用于测量缺陷尺寸。
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